中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀(半導(dǎo)體制冷)
產(chǎn)品型號(hào): | ZDX-Ⅲ |
更新日期: | 2016-08-08 |
訪問(wèn)次數(shù): | 3665 |
中空玻璃露點(diǎn)儀的產(chǎn)品說(shuō)明:ZDX-III中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀采用國(guó)外科技成果——半導(dǎo)體“深冷"技術(shù),以組合電子制冷+制冷機(jī)組制冷的方式,取代了以前同類(lèi)產(chǎn)品采用的人工加入干冰或者液氮的的制冷方式。
詳細(xì)資料:
ZDX-Ⅲ中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀
中空玻璃露點(diǎn)儀的產(chǎn)品概述:ZDX-Ⅲ中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀采用國(guó)外科技成果——半導(dǎo)體“深冷”技術(shù),以組合電子制冷+制冷機(jī)組制冷的方式,取代了以前同類(lèi)產(chǎn)品采用的人工加入干冰或者液氮的的制冷方式。中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀不僅提高了產(chǎn)品的性能和精度,而且制冷的溫度可以精確設(shè)定和控制,制冷速度快,操作十分方便,不僅可以在試驗(yàn)室內(nèi)使用,而且可在現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行檢測(cè),不受試件方向限制,不需要使用容易揮發(fā)的干冰,使用方便且使用成本低廉。
中空玻璃露點(diǎn)儀的設(shè)備構(gòu)成:ZDX-III中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀由探頭和機(jī)箱兩部分組成,探頭由半導(dǎo)體制冷裝置和相應(yīng)的構(gòu)件組成,機(jī)箱,豪華美觀,集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)全過(guò)程自動(dòng)控制。機(jī)箱和探頭由軟管連接,檢測(cè)時(shí)伸出2m長(zhǎng)的探頭工作面與試件接觸,探頭的工作面可以為任意方向。
中空玻璃露點(diǎn)儀執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀是依據(jù)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB/T11944-2002,GB/T7020-2002所設(shè)計(jì)制造的,中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀*GB/T50411-2007對(duì)建筑玻璃節(jié)能檢測(cè)的要求。
中空玻璃露點(diǎn)儀的注意事項(xiàng):
中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀的工作溫度≤-70℃,
中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀的使用環(huán)境溫度為10℃~40℃,
只要接通AC220V交流電源,預(yù)置15分鐘即可進(jìn)行工作,
不工作時(shí)要切斷電源,該儀器不宜在強(qiáng)腐蝕性氣體中長(zhǎng)時(shí)間放置。
中空玻璃露點(diǎn)儀的結(jié)構(gòu):中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀是由探頭和機(jī)箱兩部分組成,探頭由制冷模塊系統(tǒng)和相應(yīng)的構(gòu)件組成,機(jī)箱部分集成了電源、冷卻、循環(huán)和控制系統(tǒng),機(jī)箱和探頭由軟管連接,檢測(cè)時(shí)探頭的工作面與試件接觸,探頭的工作面可以為任意方向。
中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀的技術(shù)參數(shù):
1、中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀的工作溫度≤-70℃,
2、中空玻璃露點(diǎn)測(cè)試儀使用環(huán)境溫度為10℃~40℃,
只要接通220V交流電源,預(yù)置15分鐘即可進(jìn)行工作,不工作時(shí)要切斷電源。
溫度顯示 | PID高精度數(shù)顯表 |
溫度范圍 | -70℃-室溫任意設(shè)定 |
示值誤差 | ±0.2℃ |
分辨率 | 0.1℃ |
制冷方式 | 三級(jí)制冷 |
制冷介質(zhì) | 502制冷劑 |
試件尺寸 | 510mm×360mm |
試驗(yàn)環(huán)境濕度 | 30%~75%RH |
試驗(yàn)環(huán)境溫度 | 23℃±2℃ |
電壓 | 220V |
重量 | 20KG |
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn) | GB/T11944-2012《中空玻璃》關(guān)于露點(diǎn)測(cè)定部分 |
測(cè)量方式 | 移動(dòng)式無(wú)障礙檢測(cè) |